808 nm大功率半导体激光器可靠性分析

• 作者: 彭海涛 李雅静
• 来源期刊: 光电技术应用
• 学科: 工学
• 关键词: 大功率半导体激光器 温度应力加速老化 电流步进应力老化 可靠性分析
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 所属期刊栏目: 光电器件与材料
• 页码范围: 5-7,79
• 页数: 4页
• 分类号: TN248.4
• 字数: 1819字
• 语种: 中文

摘要

激光器是理想的电光直接转换器件，延长半导体激光器的使用寿命，提高半导体激光器的可靠性，是大功率半导体激光器的研究热点。文中采用温度应力加速和电流步进应力两种老化方法对808 nm的大功率半导体激光器进行老化试验，得到寿命分别为1682 h和1498 h，实验结果基本一致，并在显微镜下观察破坏性老化试验之后的器件，分析得到失效原因主要来自腔面退化、焊料退化和欧姆接触不良。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李雅静	咸阳师范学院物理与电子工程学院	8	14	3.0	3.0
2	彭海涛	中国电子科技集团公司第十三研究所	11	46	4.0	6.0