PWM脉冲电压下变频电机匝间绝缘研究

• 作者: 姚建荣 宋桂霞 张敬龙 朱勇穗 王健
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 匝间绝缘 耐电晕 介质损耗 局部放电 老化
• 年，卷（期）: 2015,（5）
• 页码范围: 40-43
• 页数: 4页
• 分类号: TM303.4|TM206
• 语种: 中文

摘要

定子绕组匝间绝缘失效是导致变频电机损坏的主要原因。以湘电1650 V变频电机匝间绝缘结构为研究对象，对匝间绝缘用FMB-40线对和耐电晕FCRMB-40线对进行高频方波脉冲老化试验，分析两者老化前后介质损耗与局部放电的变化。结果表明：施加幅值2.0 kV、频率20 kHz的方波脉冲电压老化1000 h后，两种结构都通过了老化试验。其中耐电晕FCRMB-40线对的表现较优，用于1650 V变频电机匝间绝缘具有更佳的电气可靠性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姚建荣		6	16	2.0	4.0
2	王健		15	12	2.0	3.0
3	张敬龙		12	14	2.0	3.0
4	朱勇穗		10	14	2.0	3.0
5	宋桂霞		9	10	1.0	3.0