食品中As、Hg痕量分析原子荧光法质量控制简析

• 作者: 张敏 王蓉珍
• 来源期刊: 食品工程
• 学科: 工学
• 关键词: 原子荧光 痕量分析 As Hg
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 综述评论
• 页码范围: 8-10,16
• 页数: 4页
• 分类号: TS207.5+1
• 字数: 3665字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-6044.2015.01.003

摘要

食品中重金属污染严重影响人体健康,其中As、Hg等重金属检测是食品安全检测中的重要项目.通过对食品中As、Hg痕量分析原子荧光法(AFS)测定过程中的重要控制因素进行分析探讨,包括样品空白值控制、样品前处理、检测条件控制,以期使得原子荧光光谱法对食品中As、Hg痕量分析结果得到更好地控制.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张敏		11	28	4.0	5.0
2	王蓉珍		16	123	5.0	11.0