基于光谱分析的强度调制器半波电压测量

• 作者: 戎路 李虹历 杨登才 王云新 王大勇 贾喻鹏 钟欣
• 来源期刊: 北京工业大学学报
• 学科: 交通运输
• 关键词: 强度调制器 半波电压 边带强度比 光谱分析法
• 年，卷（期）: 2015,（12）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 1867-1871
• 页数: 5页
• 分类号: U461|TP308
• 字数: 3013字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11936/bjutxb2015060028

摘要

为了提高信息容量,调制器的调制信号已经发展到Ka微波频段,频率往往大于10 GHz,带宽达到几十GHz. 这使得其半波电压会发生明显的变化,进而直接影响到调制器的调制效率以及光谱特性. 将光谱分析法推广到强度调制器半波电压的测量中,理论分析了 MZM 调制器( Mach-Zehder modulator, MZM )在射频( radio frequency,RF)信号调制下的输出光光谱特性,利用调制边带强度比计算调制器在不同的调制频率和调制功率下的半波电压. 实验结果表明:MZM调制器半波电压随着输入射频频率的增加而上升,且与输入调制功率的变化相比,调制频率的变化对调制器半波电压的影响更大. 针对不同调制条件下对强度调制器的半波电压进行测量,可为优化设计微波光子链路提供基础数据,对提高系统的传输性能具有重要实用意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王大勇	北京工业大学应用数理学院	58	413	11.0	18.0
3	杨登才	北京工业大学应用数理学院	17	21	2.0	4.0
4	王云新	北京工业大学应用数理学院	15	61	3.0	7.0
10	钟欣		6	5	2.0	2.0
11	贾喻鹏	北京工业大学应用数理学院	1	2	1.0	1.0
12	李虹历	北京工业大学应用数理学院	1	2	1.0	1.0