一种针对使用背照减薄型CCD器件色散型成像光谱仪的星上光谱定标方法

• 作者: 危峻 马亮 黄小仙
• 来源期刊: 红外与毫米波学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 光谱定标 被照减薄 干涉条纹 成像光谱仪
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 页码范围: 258-264
• 页数: 7页
• 分类号: O436.1
• 字数: 1365字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11972/j.issn.1001-9014.2015.03.001

摘要

使用背照减薄型CCD器件的色散型成像光谱仪在近红外波段会出现呈条带状干涉条纹现象,该干涉条纹对入射光波长分布敏感,空间频率稳定,特别适用于微小光谱偏差的测量与校准.针对一台光栅色散型推扫式成像光谱仪样机,先估计出条纹分布的规律,再以此为基础,采用频域滤波、最小二乘拟合等方法提取干涉条纹中包含的相位信息,以此作为光谱定标的辅助参数.实验表明,当入射光强变化达到130％以上时,拟合谱线位置的不确定度最大为0.007 3 nm,模拟光谱位置改变后,以汞灯谱线作为基准光谱位置曲线,测得拟合算法的最大误差为0.135 8 nm,该结果证明,干涉条纹拟合定标方法可有效减少定标系统对光源稳定性的依赖,提高对光谱维微小偏移量的检测精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	危峻	中国科学院上海技术物理研究所	38	228	8.0	13.0
2	黄小仙	中国科学院上海技术物理研究所	23	77	5.0	8.0
3	马亮	中国科学院上海技术物理研究所	11	47	4.0	6.0