布鲁克纳米表面仪器部精彩亮相上海SEMICON展会

• 来源期刊: 中国材料科技与设备
• 学科: 工学
• 关键词: 上海新国际博览中心 SEMICON 三维表面 展会 仪器 纳米 原子力显微镜 测量系统
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 页码范围: 65-65
• 页数: 1页
• 分类号: TB383

摘要

3月17—19日，SEMICON China2015在上海新国际博览中心隆重开幕。布鲁克纳米表面仪器部作为表面观测和测量技术的全球领导者携NPFLEX三维表面测量系统、ContourGT系列光学形貌仪和DimensionEdge原子力显微镜亮相展会，倍受参展观众的青睐，取得了圆满成功。