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电子产品可靠性与环境试验期刊
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高速差分连接器测试方法及分析
高速差分连接器测试方法及分析
作者:
王文双
陈毓彬
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
高速差分连接器
信号完整性
时域反射
摘要:
随着高速数字系统的快速发展,信号完整性成为了高速传输的关键技术,其优劣已经影响到整个高速数字系统的可靠性。以高速差分连接器为研究对象,分析了信号完整性的测试方法,采用时域反射(TDR)测试技术对阻抗、串扰和数据传输率进行测试,客观地评价高速差分连接器信号完整性的优劣,为产品的鉴定检验工作提供科学的依据。
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文献信息
篇名
高速差分连接器测试方法及分析
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
高速差分连接器
信号完整性
时域反射
年,卷(期)
2015,(3)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
41-45
页数
5页
分类号
TM503+.5
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2015.03.009
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
王文双
工业和信息化部电子第五研究所元器件检测中心
3
5
2.0
2.0
2
陈毓彬
工业和信息化部电子第五研究所元器件检测中心
8
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研究主题发展历程
节点文献
高速差分连接器
信号完整性
时域反射
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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