连接器射频泄漏测试方法及分析

• 作者: 陈毓彬
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 连接器 射频泄漏 混响室
• 年，卷（期）: 2017,（z1）
• 所属期刊栏目: 计量与测试技术
• 页码范围: 87-92
• 页数: 6页
• 分类号: TM503+.5
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2017.S1.017

摘要

随着电子技术的飞速发展,连接器变得越来越重要.在信号传输系统中,高频信号会从一个传输链路泄漏到另一个传输链路上,从而引起干扰,影响信号传输的质量,而信号泄漏量决定了整个整机系统的优劣,因此对连接器的射频泄漏的测试变得尤其重要.以连接器为研究对象,采用混响室测试方法,对频率在200 MHz～1 GHz范围内的连接器射频泄漏进行了测试,客观地评价了连接器屏蔽性能的优劣,为产品的鉴定检验工作提供了科学的依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈毓彬		8	7	2.0	2.0