基于AFM的固液界面表面电荷密度测量方法

• 作者: 景大雷 李大勇 赵学增
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: 表面电荷密度 固液界面 静电力力 探针原子力显微镜
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 所属期刊栏目: 微纳研究与应用
• 页码范围: 264-268
• 页数: 5页
• 分类号: O353.4
• 字数: 886字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB201527.024151

摘要

固液界面的表面电荷会影响微纳流体系统的流体阻力,因此如何测量固液界面的表面电荷密度以及分析表面电荷的产生机理对于研究表面电荷对流体阻力的影响具有较大的意义.提出了一种基于接触式AFM的固液界面表面电荷密度测量方法.基于该方法测量了浸在去离子水和0.01 mol/L的NaCl溶液中的高硼硅玻璃和二氧化硅样本的表面电荷密度,并研究了溶液pH值对表面电荷的影响.研究结果表明高硼硅玻璃和二氧化硅由于表面硅烷基的电离带负电.溶液pH值和离子浓度的增加都会增加浸在去离子水和0.01 mol/L的NaCl溶液中高硼硅玻璃和二氧化硅的表面电荷密度的绝对值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵学增	哈尔滨工业大学机电工程学院	133	1496	19.0	30.0
2	景大雷	哈尔滨工业大学机电工程学院	3	13	2.0	3.0
3	李大勇	哈尔滨工业大学机电工程学院	3	6	1.0	2.0