基于伯努利分布的逻辑电路可靠度计算方法

• 作者: 凌纯清 刘铁桥 尤志强 蔡烁 邝继顺
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 软错误 可靠度 概率统计模型 逻辑屏蔽 伯努利分布
• 年，卷（期）: 2015,（11）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 2292-2297
• 页数: 6页
• 分类号: TN406
• 字数: 5713字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2015.11.023

摘要

在深亚微米及纳米级集成电路设计过程中，电路的可靠性评估是非常重要的一个环节。本文提出了一种利用概率统计模型计算逻辑电路可靠度的方法，将电路中的每个逻辑门是否正常输出看作一次随机事件，则发生故障的逻辑门数为某个特定值的概率服从伯努利分布；再利用实验统计单个逻辑门出错时电路的逻辑屏蔽特性，根据此方法计算出 ISCAS’85和 ISCAS’89基准电路可靠度的一个特定范围。理论分析和实验结果表明所提方法是准确和有效的。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	尤志强	湖南大学信息科学与工程学院	32	128	5.0	9.0
2	邝继顺	湖南大学信息科学与工程学院	82	418	11.0	16.0
3	蔡烁	湖南大学信息科学与工程学院	18	26	3.0	4.0
7	凌纯清	湖南大学信息科学与工程学院	9	40	4.0	6.0
8	刘铁桥	杭州电子科技大学管理学院	3	4	1.0	2.0