压敏电阻对半导体桥火工品电爆性能的影响

• 作者: 周彬 李勇 杜培康 王军 谭明
• 来源期刊: 含能材料
• 学科: 工学
• 关键词: 火工品 半导体桥(SCB) 压敏电阻 电爆性能
• 年，卷（期）: 2015,（8）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 781-786
• 页数: 6页
• 分类号: TJ45
• 字数: 3987字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11943/j.issn.1006-9941.2015.08.014

摘要

压敏电阻能有效抑制浪涌电压,可用于火工品电磁防护.为研究压敏电阻对半导体桥(SCB)火工品电爆性能的影响,本研究在电容放电(47 μF、22 V)与恒流(100 ms)激励条件下测试了并联压敏电阻前后典型尺寸SCB火工品100 μm(L)×400 μm (W)×2 μm (T)和低发火能量SCB火工品20 μm(L) ×100 μm(W)×2lμm(T)的爆发时间和爆发消耗能量的变化规律.电容放电实验(47 μF、22 V)结果f检验表明,并联压敏电阻前后的典型SCB火工品的爆发时间和爆发能量均无显著性变化;对于低发火能量SCB火工品,并联击穿电压较低的压敏电阻时,爆发所需能量升高14％,而爆发时间无显著性变化.而恒流(100 ms)激励实验结果表明,压敏电阻对两种SCB火工品电爆性能均无显著性影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周彬	南京理工大学化工学院	53	505	12.0	20.0
2	王军	南京理工大学化工学院	66	259	8.0	9.0
3	李勇	南京理工大学化工学院	15	63	5.0	7.0
4	谭明		2	6	1.0	2.0
5	杜培康	南京理工大学化工学院	2	15	2.0	2.0