扭曲向列相薄盒中线缺陷的研究

• 作者: 余洋 周璇 张志东
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 物理学
• 关键词: 有序重构 扭曲向错线 双轴性参数 Landau-de Gennes理论
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 所属期刊栏目: ??材料物理和化学??
• 页码范围: 213-223
• 页数: 11页
• 分类号: O753.2
• 字数: 5330字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/YJYXS20153002.0213

摘要

在扭曲向列相中，基于Landau-deGennes理论，利用二维松弛迭代方法，研究了s＝±1/2扭曲向错的有序重构，给出了随着盒厚减小缺陷核的双轴结构。在临界值dc?≈9ξ(ξ是序参数变化的相干长度)，有序重构结构是稳定态，而带缺陷结构是亚稳态，此时系统缺陷结构和双轴性开始沿基板方向扩散。相对于没有初始向错的情况，本征值交换为稳定解对应的盒厚较大。在临界盒厚dc≈7ξ，系统发生双轴性转变，双轴性结构扩散到整个液晶盒，形成双轴壁。在盒厚d≈9ξ时力达到极大值，而d≈7ξ时力达到极小值。对于非对称弱锚泊边界条件，随着锚泊强度的降低，弱锚泊边界将向错逐渐驱出边界。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张志东	河北工业大学理学院	120	424	10.0	13.0
2	周璇	河北工业大学理学院	19	40	4.0	5.0
3	余洋	河北工业大学理学院	1	4	1.0	1.0