电感耦合等离子体质谱法测定高纯二氧化锡电极材料中痕量金属杂质离子

• 作者: 徐伟 李育珍 段太成 陈杭亭
• 来源期刊: 分析化学
• 关键词: 电感耦合等离子体质谱 氧化锡电极材料 金属杂质 氯化物挥发分离
• 年，卷（期）: 2015,（9）
• 所属期刊栏目: 特 约 来 稿
• 页码范围: 1349-1352
• 页数: 4页
• 字数: 3467字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11895/j.issn.0253-3820.150577

摘要

建立了电感耦合等离子体质谱法( ICP-MS)测定高纯二氧化锡电极材料中Cu, Cr, Mn, Co, Ni, Cd, Fe和Pb等关键性杂质离子的新方法。以2 mL浓HCl为介质,基于高温高压密闭溶样技术,在230℃时保持3 h可将0.1 g样品完全分解。进一步结合氮气吹扫氯化物基体分离技术,实现了150℃挥发温度时和1.5 h时间内单次>99.9％的基体去除效率,有效消除了后续ICP-MS测定的基体效应以及潜在的质谱干扰。全分析流程加标回收率在100％±5％以内,6次样品平行测定值的相对标准偏差( RSD)在0.09％~3.68％之间,方法检出限(3σ)在0.002~0.034 mg/kg之间,表明本方法不仅具有较好的精确度,而且具有较高的灵敏度,可适用于纯度高达6N的二氧化锡电极材料中杂质离子的检测。应用此法成功测定了3个标称为4N纯度的二氧化锡电极材料实际样品。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐伟	太原理工大学环境科学与工程学院	107	758	15.0	22.0
3	段太成	中国科学院长春应用化学研究所电分析化学国家重点实验室	28	281	10.0	16.0
4	陈杭亭	中国科学院长春应用化学研究所电分析化学国家重点实验室	34	352	10.0	17.0
5	李育珍	太原理工大学环境科学与工程学院	15	62	4.0	7.0