NaOH处理对石墨烯电学性能的影响

• 作者: 于广辉 张亚欠 张浩然 曹一江 朱博 汤春苗 陈志蓥
• 来源期刊: 材料科学与工程学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 石墨烯 迁移率 PMMA NaOH
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 133-138
• 分类号: O472+.4
• 语种: 中文

摘要

在CVD石墨烯的转移过程中无法避免会出现胶残留,导致了材料不必要的p型掺杂.研究表明,通常来自这种残余胶的p型掺杂影响了石墨烯的电学特性.本文发现NaOH溶液能够有效地去除这种PMMA(聚甲基丙烯酸甲酯(C5H8O2)x)中的含氧官能团,减少胶残留,并首次将其运用在CVD生长的石墨烯单层薄膜上.通过不同浓度NaOH溶液的选择,我们有效地解决了NaOH与SiO2/Si衬底反应的问题.处理结果显示,通过NaOH溶液浸泡石墨烯的载流子浓度变为原来的三分之一甚至更少,而且处理效果最明显的石墨烯样品的迁移率从880cm2/Vs升高到2260cm2/Vs.同时我们比较了水和NaOH处理效果的稳定性,结果显示用水处理的样品迁移率很快回到了处理前的数据,而用NaOH溶液处理的石墨烯薄膜迁移率最终稳定在原有迁移率的1.5倍.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹一江	哈尔滨理工大学应用科学学院	29	98	5.0	8.0
2	汤春苗	哈尔滨理工大学应用科学学院	1	1	1.0	1.0
6	陈志蓥	中科院上海徽系统与信息技术研究所	1	1	1.0	1.0
7	朱博	中科院上海徽系统与信息技术研究所	1	1	1.0	1.0
8	张浩然	中科院上海徽系统与信息技术研究所	1	1	1.0	1.0
9	张亚欠	中科院上海徽系统与信息技术研究所	1	1	1.0	1.0