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摘要:
采用WHD-30型双向交流脉冲电源对氢化锆表面进行微弧氧化处理,研究了负向电压对氢化锆表面微弧氧化膜的厚度、表面形貌、截面形貌、相结构及阻氢性能的影响.实验选取电解液体系为Na2 SiO3-NaOH-Na2 EDTA体系,正向电压为350V,电源频率为200 Hz,氧化时间为20 min;氢化锆表面微弧氧化膜的阻氢性能采用真空脱氢实验进行测试.研究结果表明:负向电压在120~ 160 V范围内变化时,氢化锆表面微弧氧化膜的厚度在30 ~ 90 μm范围内,氧化膜的厚度随着负向电压的升高而增大.氧化膜外部为疏松层,存在孔洞和裂纹缺陷,氧化膜内部为致密层,与基体结合紧密,无孔洞和裂纹缺陷.氧化膜相结构由单斜相氧化锆(M-ZrO2)和四方相氧化锆(T-Zr01.88)构成,并以单斜相氧化锆(M-Zr02)为主.负向电压升高有利于增大氧化膜致密层的厚度,进而提高氧化膜的阻氢能力.当负向电压为160 V时,氧化膜的阻氢能力最高,氢渗透降低因子(PRF,permeation reduction factor)值达到10.4.
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文献信息
篇名 硅酸盐体系负向电压对氢化锆表面微弧氧化膜的影响
来源期刊 稀有金属 学科 工学
关键词 氢化锆 微弧氧化 负向电压 氧化膜
年,卷(期) 2015,(10) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 902-907
页数 分类号 TG174.4|TG146.4+1
字数 语种 中文
DOI 10.13373/j.cnki.cjrm.2015.10.007
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘向东 内蒙古工业大学材料科学与工程学院 106 541 11.0 18.0
2 陈伟东 内蒙古工业大学材料科学与工程学院 34 100 6.0 8.0
4 闫淑芳 内蒙古工业大学材料科学与工程学院 33 91 5.0 7.0
7 徐志高 武汉工程大学绿色化工过程教育部重点实验室 29 339 10.0 17.0
8 王志刚 内蒙古工业大学材料科学与工程学院 5 23 4.0 4.0
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