X射线荧光光谱仪激发系统原理及故障分析

• 作者: 罗宇 邓赛文 陶迪
• 来源期刊: 现代科学仪器
• 学科: 工学
• 关键词: X射线荧光光谱仪 激发系统 重大故障 维修
• 年，卷（期）: 2015,（5）
• 所属期刊栏目: 实验室建设
• 页码范围: 117-119
• 分类号: TH744.15
• 语种: 中文

摘要

X射线荧光分析技术是当今无机多元素测试领域的技术支柱之一.主要应用于试样的主量、次量和痕量组份分析.X射线荧光光谱仪在地质、冶金、建材、环境、考古和石化等领域得到了广泛的应用.但仪器在经过长期不间断运行使用后,仪器的各个部分都有可能会出现故障,甚至出现重大故障,使仪器不能正常工作.本文就日本理学公司RIX2100型波长X射线荧光光谱仪在使用过程中出现的X射线激发系统重大故障进行了自主维修尝试,希望能对从事仪器研发和维修人员有些帮助.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邓赛文		34	181	7.0	12.0
2	陶迪		4	2	1.0	1.0
3	罗宇		1	1	1.0	1.0