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摘要:
针对集成电路验证向量生成与功能覆盖率收敛的问题,提出一种基于遗传算法的功能覆盖率收敛技术.通过计算分析遗传算法中遗传算子的概率分布函数,获得由比例选择算子、均匀交叉算子以及二元变异算子组成的遗传算法,得到覆盖率广、重复性低的验证向量,在最短仿真时间内达到预先设定的功能覆盖率.实验采用基于Turbo芯片的图像处理硬件加速器作为验证模型,将遗传算法嵌入到以System Verilog语言为基础的层次化验证平台中.结果表明,与全随机向量验证相比,该算法有效增加了功能覆盖率并使仿真时间缩短了25%左右,实现功能覆盖率的快速收敛,提高了验证效率.
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文献信息
篇名 基于遗传算法的功能覆盖率收敛技术
来源期刊 浙江大学学报(工学版) 学科 工学
关键词 遗传算法 功能覆盖率 快速收敛 比例选择算子 均匀交叉算子 二元变异算子
年,卷(期) 2015,(8) 所属期刊栏目 电气工程
研究方向 页码范围 1509-1515
页数 7页 分类号 TN47
字数 6191字 语种 中文
DOI 10.3785/j.issn.1008-973X.2015.08.015
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 罗小华 浙江大学电气工程学院 27 74 6.0 6.0
2 卢宇峰 浙江大学电气工程学院 4 15 3.0 3.0
3 高史义 浙江大学电气工程学院 1 6 1.0 1.0
4 刘富春 北京大学工学院杭州未来科技城研究院 1 6 1.0 1.0
5 张晨秋 浙江大学电气工程学院 2 7 1.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
遗传算法
功能覆盖率
快速收敛
比例选择算子
均匀交叉算子
二元变异算子
研究起点
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期刊影响力
浙江大学学报(工学版)
月刊
1008-973X
33-1245/T
大16开
杭州市浙大路38号
32-40
1956
chi
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