VMM中功能覆盖率收敛技术

• 作者: 于承兴 常华 张波 邵智勇 黄思远
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: System Verilog VMM IC验证 功能覆盖率收敛技术 SoC
• 年，卷（期）: 2010,（4）
• 所属期刊栏目: 集成电路设计
• 页码范围: 16-18,31
• 页数: 4页
• 分类号: TN710
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2010.04.005

摘要

介绍System Verilog VMM验证方法学在LCD Controller验证中的应用,指出它相对于传统Verilog验证方法的优点,重点研究功能覆盖率的收敛技术,实验比较了多种具体的实现方法.实验结果表明,由于CCT能够收集覆盖信息,形成闭环负反馈,以控制随机变量的生成,从而在实现快速收敛的目标方面取得了显著的效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄思远		1	25	1.0	1.0
2	邵智勇		1	25	1.0	1.0
3	于承兴		1	25	1.0	1.0
4	常华		1	25	1.0	1.0
5	张波		1	25	1.0	1.0