基于 CPCI 总线的数字板边扫设计

• 作者: 方云 曹俊锋
• 来源期刊: 雷达科学与技术
• 学科: 工学
• 关键词: 可测试性 CPCI总线 TPS开发 边界扫描
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 页码范围: 444-448
• 页数: 5页
• 分类号: TN957
• 字数: 2566字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-2337.2015.04.019

摘要

在数字化系统的发展中,先进 FPGA 和 DSP 等大规模集成电路得以广泛应用,其测试的困难伴随而来。以某电路板为例,进行了可测试性分析,该板应用了高端的 FPGA 和 DSP 芯片,以及 CPCI 总线接口,是数字化整机的典型代表。还介绍了边界扫描测试开发软件 Scanworks,并通过 Scanworks 进行了该板的测试程序集(TPS)开发,通过开发结果来看,该 TPS 能有效解决 CPCI 总线形式下数字电路板的边扫测试,能有效覆盖该板的焊接和器件类故障,对于该电路板的批量生产检测和维护有着重要的意义。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹俊锋	中国电子科技集团公司第三十八研究所	2	8	1.0	2.0
2	方云	中国电子科技集团公司第三十八研究所	1	0	0.0	0.0