超声阵列矢量全聚焦裂纹识别及影响参数研究

• 作者: 何存富 吴斌 孙欣蓉 常予 焦敬品
• 来源期刊: 南京大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 裂纹 超声阵列 矢量全聚焦 子阵列
• 年，卷（期）: 2015,（z1）
• 所属期刊栏目: 2015 年物理声学专刊
• 页码范围: 72-77
• 页数: 6页
• 分类号: TB553
• 字数: 2218字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13232/j.cnki.jnju.2015.07.014

摘要

针对工业结构中裂纹缺陷的定位和方向识别问题，发展了一种基于超声阵列技术的矢量全聚焦成像方法。在修正的全聚焦成像基础上，提出了一种利用子阵列在聚焦点处矢量方向判断缺陷方向的方法，并将其应用于不同角度裂纹的方向识别。对单裂纹 CIVA 仿真模型进行了全矩阵数据采集和矢量全聚焦成像，研究发现，子阵列检测参数对裂纹方向识别具有不同程度的影响。因此，提出了子阵列检测参数的最优组合，可同时应用于多裂纹试块的缺陷定位和方向识别。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何存富	北京工业大学机械工程与应用电子技术学院	356	4897	36.0	53.0
2	吴斌	北京工业大学机械工程与应用电子技术学院	378	5047	37.0	54.0
3	焦敬品	北京工业大学机械工程与应用电子技术学院	82	1245	18.0	33.0
4	常予	北京工业大学机械工程与应用电子技术学院	4	26	3.0	4.0
5	孙欣蓉	北京工业大学机械工程与应用电子技术学院	1	5	1.0	1.0