质子辐照聚酰亚胺薄膜的力学性能退化机理

• 作者: 张帆 沈自才 高鸿
• 来源期刊: 宇航材料工艺
• 学科: 航空航天
• 关键词: 质子辐照 力学性能 聚酰亚胺 机理
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 所属期刊栏目: 新材料新工艺
• 页码范围: 64-68
• 页数: 5页
• 分类号: V25
• 字数: 2267字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2330.2015.02.015

摘要

利用自制的φ800 mm空间综合辐照试验设备和X射线光电子能谱等分析手段对质子辐照聚酰亚胺薄膜的力学性能退化及机理进行了研究.研究发现:薄膜的断裂伸长率和拉伸强度随质子辐照注量的增加而呈指数减小,弹性模量基本不变;质子辐照后聚酰亚胺薄膜仍具有较好的热稳定性,但其在紫外可见光波段透射率降低,透射光谱发生红移;分子键的断裂和交联是质子辐照聚酰亚胺薄膜力学性能降低的主要原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈自才		57	347	11.0	16.0
2	高鸿		24	75	5.0	8.0
3	张帆		5	58	4.0	5.0