基于时间门技术的纳米显微镜原理及应用

• 作者: 侯尚国 王丽华 王坤 邓素辉 黄庆
• 来源期刊: 中国科学（化学）
• 关键词: 超分辨成像 时间门 纳米显微镜 受激发射损耗显微镜
• 年，卷（期）: 2015,（11）
• 所属期刊栏目: 评述
• 页码范围: 1206-1213
• 页数: 8页
• 语种: 中文
• DOI: 10.1360/N032015-00037

摘要

很久以来,光学显微镜的分辨率受限于光学衍射极限.最近几年,发展了很多突破光学衍射极限的技术方法.其中,受激发射损耗(stimulated emission depletion,STED)显微镜因能够提供超快超高的分辨率而备受关注.在这类方法中,脉冲式STED分辨率较高但搭建复杂;连续光STED虽然搭建简单,但分辨率有所下降;时间门调制STED (gated-STED,gSTED)在简化STED搭建的同时,又可以实现与脉冲式STED相比拟的分辨率.本文详细介绍了时间门在STED纳米显微镜中的应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王丽华	中国科学院上海应用物理研究所(上海原子核研究所)	51	294	8.0	16.0
2	黄庆	中国科学院上海应用物理研究所(上海原子核研究所)	39	122	7.0	9.0
3	王坤	中国科学院上海应用物理研究所(上海原子核研究所)	48	510	12.0	21.0
4	侯尚国	中国科学院上海应用物理研究所(上海原子核研究所)	1	0	0.0	0.0
5	邓素辉	中国科学院上海应用物理研究所(上海原子核研究所)	1	0	0.0	0.0