中心掺杂单缺陷层一维光子晶体带隙缺陷特性

• 作者: 方兴 董盈红 蔡允高
• 来源期刊: 微纳电子技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 一维光子晶体(1D PC) 单缺陷层 折射率值 基本周期层数 缺陷特性
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 材料与结构
• 页码范围: 37-41,68
• 分类号: O471.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.13250/j.cnki.wndz.2015.01.006

摘要

在一维光子晶体(1D PC)结构中心掺杂单个缺陷层,采用传输矩阵法,通过Fortran语言编程进行数值计算,获得了中心掺杂单缺陷层一维光子晶体透射谱;分析并讨论了改变缺陷层折射率值(n'2,n'3)、缺陷层两端的基本周期层数N等因素时光子带隙的缺陷特性.结果表明,在一定范围内调节缺陷层折射率n'2或n'3的值,缺陷带隙的透射率的值呈明显先增大后减小的趋势;此外,在(n'2,n'3)=(2.0,3.0)的条件下,随着N从3增加至10,缺陷带隙的透射率值迅速从0.735 9降至0.032 4,缺陷带隙频宽也相应地从0.0470减小至0;而光子带隙的归一化频率均为0.230 0～0.320 0,即N不影响光子带隙的频宽.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	方兴	保山学院理工学院	8	16	2.0	3.0
2	蔡允高	保山学院理工学院	15	13	2.0	3.0
3	董盈红	保山学院理工学院	13	14	2.0	3.0