斜入射下电离层闪烁对GEO SAR成像影响分析

• 作者: 李元昊 田野 董锡超
• 来源期刊: 信号处理
• 学科: 工学
• 关键词: GEO SAR 多相位屏 电离层闪烁 成像
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 页码范围: 226-232
• 页数: 7页
• 分类号: TN95
• 字数: 4048字
• 语种: 中文

摘要

本文基于多相位屏理论，研究了电离层闪烁对GEO SAR成像的影响。首先针对电离层各向异性的特点，修正了各向异性电子密度起伏的功率谱，并重新推导了斜入射条件下随机介质中的电磁波传播方程，改进了传统的基于垂直入射和各向同性电离层条件下的多相屏仿真方法，然后结合典型GEO SAR参数，分析了电离层闪烁对GEO SAR成像的影响。最后，通过Monte Carlo仿真，给出了不同电离层电子密度起伏条件下GEO SAR进行合成孔径处理的最优积累时间。分析结果表明，相同GEO SAR系统配置下，电离层闪烁的起伏越大，合成时间越长，GEO SAR成像质量越差，甚至会出现无法聚焦的情况。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	董锡超	北京理工大学信息与电子学院	10	25	3.0	5.0
2	田野	北京理工大学信息与电子学院	25	181	8.0	13.0
3	李元昊	北京理工大学信息与电子学院	2	5	2.0	2.0