基于五元助熔剂的高频-红外吸收法测定硅铁中碳、硫含量

• 作者: 任旭东 吴文琪 张术杰 张翼明 郝茜
• 来源期刊: 分析试验室
• 学科: 工学
• 关键词: 高频-红外吸收法 硅铁 碳含量 硫含量 助熔剂
• 年，卷（期）: 2015,（6）
• 所属期刊栏目: 研究报告与研究简报
• 页码范围: 740-744
• 页数: 5页
• 分类号: TF03
• 语种: 中文
• DOI: 10.13595/j.cnki.issn1000-0720.2015.0160

摘要

以EMIA-820V型高频-红外碳硫分析仪为测量仪器,采用W,Sn,Fe,Mo和Ni混合的五元助熔剂法对硅铁中C,S的含量进行了测定.通过对分析电流、称样量、助熔剂配比等条件实验的优化,确定了最佳分析条件为:分析电流175 mA,称样量0.106 ～0.156g,助熔剂配比W1.2g+Sn0.5 g+Fe0.5 g+ Mo0.045g+Ni0.05 g.结果熔样后坩埚光滑无飞溅,数据精密度RSD＜7.0％,测定范围为C:0.0030％ ～0.025％,S:0.0030％～0.025％.本方法相比国标方法实现了碳、硫同时测定,扩大了碳、硫测定的含量范围.本法可满足硅铁合金中碳、硫量的日常分析,且为硅铁合金中碳、硫量分析的国家标准修订提供依据,为多元助熔剂法的应用提供参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郝茜		4	0	0.0	0.0
2	吴文琪		3	0	0.0	0.0
3	张翼明		4	0	0.0	0.0
4	任旭东		2	0	0.0	0.0
5	张术杰		2	0	0.0	0.0