CT技术结合MC模拟探测器效率刻度曲线

• 作者: 吴金杰 周四春 姚馨博 王佳 陈成
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: CT成像原理 探测器CT结构图 测量精度 探测效率曲线
• 年，卷（期）: 2015,（5）
• 页码范围: 490-494
• 页数: 5页
• 分类号: TL99
• 字数: 2564字
• 语种: 中文

摘要

探测器效率直接关系到物理测量结果的精确度,受生产厂家给出的探测器结构数据完整性、精确性限制,导致不能完整的建立MC模型.利用计算机断层成像装置(CT),完整的呈现探测器内部3D、2D结构图,可测得所有相关结构参数.实验结果表明:Xview X5000型号工业CT测量系统最大分辨率优于1μm,测量的数据与出厂参数相对误差都在±1.5％内;此外,采用不同灰度颜色凸显结构分布,通过3D切片建立2D结构剖面图,可精确的获取探测器内部的形状、位置、尺寸等信息,为MC模拟、物件缺陷检测、结构分析提供了有力的保障.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴金杰		68	186	7.0	9.0
2	周四春		75	390	11.0	15.0
3	王佳		24	82	6.0	8.0
5	陈成		6	19	3.0	4.0
11	姚馨博		3	14	2.0	3.0