基于故障树分析的密封电磁继电器贮存故障原因分析与诊断方法研究

• 作者: 叶雪荣 唐娟 李子先 杨文英 王瑛琪
• 来源期刊: 电器与能效管理技术
• 学科: 工学
• 关键词: 密封电磁继电器 FTA 贮存故障 故障诊断 加速贮存试验
• 年，卷（期）: 2015,（22）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 5-10
• 页数: 6页
• 分类号: TM581.3
• 字数: 3934字
• 语种: 中文

摘要

通过故障树分析(FTA)方法,对密封电磁继电器长期贮存条件下的失效模式进行了科学归纳分析.对继电器贮存中出现的主要故障模式,如接触电阻超差、触点黏结等,建立清晰的故障树模型,分析确定关键故障原因及其对继电器特性影响规律,结合可测试性因素确定主要故障模式的失效表征参数,通过监测特征参数实现继电器贮存失效模式的确定及原因的诊断.最后通过加速贮存试验数据验证方法的可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	叶雪荣	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院	56	265	9.0	13.0
2	王瑛琪	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院	7	97	5.0	7.0
4	杨文英	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院	48	257	8.0	14.0
5	李子先	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院	3	9	2.0	3.0
11	唐娟	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院	3	9	2.0	3.0