一种面向 FPGA 器件软错误的 MUX结构设计

• 作者: 何卫锋 毛志刚 熊力孚
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: FPGA 单粒子翻转(SEU ) 软错误防护 MUX
• 年，卷（期）: 2015,（8）
• 页码范围: 130-134
• 页数: 5页
• 分类号: TP391
• 语种: 中文

摘要

在航空和工业领域，FPGA器件已经得到了广泛的应用。然而SRAM 型FPGA极易受到空间高能粒子的影响发生单粒子翻转软错误。对此针对实际FPGA器件内部的M UX结构，利用M UX真实存在的冗余配置位进行重新编码，设计出一种新颖的抗软错误M UX结构。实验结果表明，提出的M UX结构能够在较低的面积开销下实现对单粒子翻转软错误的完全防护。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	毛志刚	上海交通大学电子信息学院微纳电子学系	82	249	9.0	12.0
2	何卫锋	上海交通大学电子信息学院微纳电子学系	35	100	4.0	9.0
3	熊力孚	上海交通大学电子信息学院微纳电子学系	1	0	0.0	0.0