电子电气产品中19种元素的无损测定、分布研究及风险评估

• 作者: 倪旎 卫碧文 望秀丽 高欢
• 来源期刊: 分析试验室
• 学科: 工学
• 关键词: XRF 电子电气产品 快速无损 分布研究 风险评估
• 年，卷（期）: 2015,（11）
• 所属期刊栏目: 研究报告与研究简报
• 页码范围: 1295-1299
• 页数: 5页
• 分类号: TG115.22
• 语种: 中文
• DOI: 10.13595/j.cnki.issn1000-0720.2015.0282

摘要

采用X射线荧光光谱法快速无损扫描测定电子电气产品中19种元素,考察了特征X射线以及计数时间的选择,并通过自制标准块绘制标准曲线.同时利用MAPPING功能进行微区原位扫描,掌握19种元素的分布情况及分布特征.并利用换算因子计算REACH高关注物质的含量,对19种元素进行风险性评价.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	卫碧文		61	367	10.0	17.0
2	高欢		8	86	4.0	8.0
3	望秀丽		8	25	3.0	5.0
4	倪旎		2	0	0.0	0.0