利用坐标变换分析塔差对编码器测角精度测试的影响

• 作者: 刘朝晖 周艳 李坤 段亚轩 潘亮 田留德 赵建科 赵怀学 龙江波
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 测量 误差分析 坐标变换 光电编码器 测角精度 塔差
• 年，卷（期）: 2015,（5）
• 所属期刊栏目: 仪器,测量与计量
• 页码范围: 165-170
• 页数: 6页
• 分类号: TP212.14
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/AOS201535.0512003

摘要

为了实现编码器测角精度的高精度测量,介绍了应用多面棱体和自准直仪组合测量编码器测角精度的原理和方法,建立了多面棱体坐标系和自准直仪测量坐标系,利用坐标变换的方法推导了塔差对测角精度测试结果影响的精确模型.结果表明,编码器转轴的倾斜角度和倾斜方向会影响编码器测角精度的测量结果.测量误差随编码器的倾斜角度的增大而增大,且近似成平方关系.测量误差随随编码器的倾斜方向改变,倾斜方向角为0°或180°时,测量误差最小;倾斜方向角为90°或270°时,测量误差最大.当倾斜角度为5′时,引入的测量误差为0.11″～0.48″,这对于Ⅰ～Ⅲ级编码器的测试是不能忽略的.根据被测编码器的精度等级将塔差控制在恰当的范围内,给出了不同精度等级编码器测试时塔差的控制要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘朝晖	中国科学院西安光学精密机械研究所	57	364	10.0	16.0
2	赵建科	中国科学院西安光学精密机械研究所	39	170	8.0	10.0
3	周艳	中国科学院西安光学精密机械研究所	12	55	4.0	7.0
4	李坤	中国科学院西安光学精密机械研究所	35	273	11.0	16.0
5	潘亮	中国科学院西安光学精密机械研究所	21	91	5.0	9.0
6	赵怀学	中国科学院西安光学精密机械研究所	8	13	3.0	3.0
7	田留德	中国科学院西安光学精密机械研究所	11	33	4.0	5.0
8	龙江波	中国科学院西安光学精密机械研究所	6	6	1.0	2.0
9	段亚轩	中国科学院西安光学精密机械研究所	14	39	4.0	6.0