原文服务方: 计算机应用研究       
摘要:
为了提高基于覆盖率的缺陷定位方法的效率和准确率,将执行轨迹中被失效执行所覆盖的基本块(C-failure)、被全部执行所覆盖的基本块(C-all)和未被任何执行所覆盖的基本块(C-non)这三个小概率事件进行了分析,指出这些小概率事件的出现包含大量信息,据此提出三条缺陷检测新规则。然后利用执行轨迹所收集的覆盖率度量值计算缺陷贡献率CDCR,给出了缺陷贡献率算法(Codes-TCC)。研究主要创新在于新规则中贡献率公式加入权重系数且算法实现层层递归,可精确定位缺陷位置;除此之外,规则中加入排除无关基本块的优化,很大地提高了缺陷定位的效率。最后在西门子和space程序集上将Codes-TCC缺陷定位结果与其他四种经典的基于覆盖率的缺陷定位算法进行对比实验,证实了该方法已达到期望的目的。
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文献信息
篇名 一种计算缺陷贡献率的代码缺陷定位规则
来源期刊 计算机应用研究 学科
关键词 贡献率 覆盖率 缺陷定位 算法规则 小概率
年,卷(期) 2015,(9) 所属期刊栏目 软件技术研究
研究方向 页码范围 2702-2707
页数 6页 分类号 TP311.1
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-3695.2015.09.033
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 赵逢禹 上海理工大学光电信息与计算机工程学院 68 296 10.0 14.0
2 林晶昱 上海理工大学光电信息与计算机工程学院 1 2 1.0 1.0
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节点文献
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缺陷定位
算法规则
小概率
研究起点
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研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机应用研究
月刊
1001-3695
51-1196/TP
大16开
1984-01-01
chi
出版文献量(篇)
21004
总下载数(次)
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总被引数(次)
238385
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