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摘要:
通过自组装层法、磁控溅射依次在SiO2基底上化学镀制备了Ni-Mo-P、Cu薄膜,薄膜厚度和成分通过X射线荧光仪(XRF)测定.对SiO2/Ni-Mo-P/Cu体系进行了400 ~ 600℃的热处理,利用X射线衍射仪(XRD)对物相结构的稳定性进行了测定,利用场发射扫描电镜(FE-SEM)和电子能谱仪(EDS)对表面形貌的稳定性进行了观察和成分分析.结果表明,在400和500℃热处理后,体系稳定性良好,但在较快的降温速率(40℃/min)条件下,SiO2/Ni-Mo-P/Cu体系在600℃热处理后失效,根据热失配应力,提出了薄膜破裂模型,Ni-Mo-P薄膜与SiO2界面断裂能为2.12 J/m2.Cu薄膜在600℃热处理时发生团聚,Cu在Ni-Mo-P上的团聚激活能为1.15 eV,大于Cu在SiO2上的团聚激活能0.6 eV.
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热稳定性
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 Ni-Mo-P/Cu薄膜的热稳定性
来源期刊 材料热处理学报 学科 工学
关键词 热稳定性 热失配应力 团聚 断裂
年,卷(期) 2015,(7) 所属期刊栏目 表面改性
研究方向 页码范围 182-187
页数 分类号 TG174.44
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨志刚 清华大学材料学院 83 1291 19.0 35.0
2 张弛 清华大学材料学院 66 317 10.0 16.0
3 高思田 93 567 11.0 19.0
4 王海 28 73 4.0 6.0
5 王梅玲 15 42 3.0 5.0
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研究主题发展历程
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材料热处理学报
月刊
1009-6264
11-4545/TG
大16
北京市海淀区学清路18号北京电机研究所内
82-591
1980
chi
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