控制回路性能评估在蒸馏中的应用

• 作者: 侯咏武 王亚刚
• 来源期刊: 信息技术
• 学科: 工学
• 关键词: 控制回路性能评估 最小方差 扩展时域性能指标 蒸馏
• 年，卷（期）: 2015,（6）
• 所属期刊栏目: 应用技术
• 页码范围: 198-201
• 页数: 4页
• 分类号: TP273
• 字数: 2992字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13274/j.cnki.hdzj.2015.06.051

摘要

控制回路性能评估是控制领域中较新的一个研究分支,是保持工业过程中控制回路高效经济运行的一项重要技术.性能评估中广泛使用最小方差指标作为评估标准,然而时间延迟在实际工业中并不总是可获得,所以使用扩展时域性能指标代替最小方差性能指标来评估回路性能.把性能评估应用到蒸馏控制系统,通过测量输出数据,拟合AR/ARMA模型,最后用扩展时域性能指标对蒸馏回路进行性能评估.实验结果表明,扩展时域性能指标能很好地评估蒸馏系统的性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王亚刚	上海理工大学光电信息与计算机工程学院	134	472	11.0	15.0
2	侯咏武	上海理工大学光电信息与计算机工程学院	2	5	2.0	2.0