一种 KLEIN 密码的差分故障分析

• 作者: 潘晓中 范存洋 魏悦川
• 来源期刊: 计算机应用与软件
• 学科: 工学
• 关键词: KLEIN 轻量级分组密码 差分故障分析
• 年，卷（期）: 2015,（6）
• 所属期刊栏目: 安全技术
• 页码范围: 280-282,303
• 页数: 4页
• 分类号: TP309
• 字数: 3122字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-386x.2015.06.069

摘要

针对 KLEIN 密码算法提出一种可行的差分故障分析方法，研究 KLEIN 密码对差分故障分析的安全性。经多次分析尝试，选择分别向16个字节处各导入1比特随机故障，相当于每次引入16个随机故障。通过在 KLEIN 密码第12轮 S 盒置换操作之前对各字节引入1比特随机故障，并构造了 S 盒差分区分器来搜索差分值，最终恢复64比特密钥。实验结果表明，平均2．73次诱导此类故障即可恢复主密钥，同时大大降低了搜索空间。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	潘晓中	武警工程大学电子技术系网络与信息安全武警部队重点实验室	51	171	7.0	10.0
5	魏悦川	武警工程大学电子技术系网络与信息安全武警部队重点实验室	15	22	3.0	4.0
9	范存洋	武警工程大学电子技术系网络与信息安全武警部队重点实验室	4	1	1.0	1.0