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摘要:
为了考虑铁电薄膜的历史电场效应,本文结合偶极子转换理论和MOS电容器的半导体物理理论,提出了一种描述MFMIS电容器电学性能的改进模型.利用该模型,模拟了铁电薄膜的极化强度-电压(P-E)特性和MFMIS电容器的电容-电压(C-V)特性,并与实验结果进行了对比.模拟结果与实验结果符合较好.本改进模型可被推广应用至MFMIS结构类器件中.
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文献信息
篇名 MFMIS铁电电容器的模型改进
来源期刊 电子测试 学科 工学
关键词 MFMIS电容器 改进模型 P-V特性 C-V特性
年,卷(期) 2015,(23) 所属期刊栏目 设计与研发
研究方向 页码范围 12-14
页数 3页 分类号 TN384
字数 1532字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李立 湖南工程学院电气信息学院 30 200 6.0 14.0
2 施晓蓉 湖南工程学院电气信息学院 17 61 4.0 7.0
3 孙静 湖南工程学院电气信息学院 18 9 2.0 2.0
4 田莉 湖南工程学院电气信息学院 11 4 1.0 1.0
5 李延平 湖南工程学院电气信息学院 21 22 2.0 4.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
MFMIS电容器
改进模型
P-V特性
C-V特性
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子测试
半月刊
1000-8519
11-3927/TN
大16开
北京市100098-002信箱
82-870
1994
chi
出版文献量(篇)
19588
总下载数(次)
63
总被引数(次)
36145
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