基于AVR单片机的微电阻测试仪研究

• 作者: 权晓红
• 来源期刊: 自动化与仪器仪表
• 学科: 工学
• 关键词: 微小电阻 差动放大 ADC 双绞线
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 所属期刊栏目: 过程自动化
• 页码范围: 20,23
• 页数: 2页
• 分类号: TP368.1
• 字数: 1076字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14016/j.cnki.1001-9227.2015.03.020

摘要

为解决工作中对毫欧级微小电阻的精密测量,利用AVR单片机Mega16内置的可预置差动放大增益ADC,研制了精密微小电阻测试仪,并采用LCD1602液晶,进行测量数据的显示.本设计可以解决微电阻的精密测量、配对等问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	权晓红	兰州工业学院网络中心	23	57	4.0	6.0