基于PDE的错位ESPI无损检测方法与系统实现

• 作者: 孙娇 张芳 檀玉飞 王晋疆 马潇
• 来源期刊: 天津工业大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 无损检测 错位电子散斑干涉 偏微分方程 相位提取
• 年，卷（期）: 2016,（1）
• 所属期刊栏目: 电子信息与自动化
• 页码范围: 38-42,49
• 页数: 6页
• 分类号: TG115.28|TP391
• 字数: 3928字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-024x.2016.01.008

摘要

设计并实现了电子散斑干涉无损检测系统,搭建了错位电子散斑干涉光路.采用基于偏微分方程的电子散斑干涉信息提取技术对采集到的散斑图像进行处理,结合条纹图自身的方向信息,利用偏微分方程提取电子散斑干涉条纹图的中心线并进行相位插值,得到物体的变形信息,从而实现无损检测.实验结果表明:本文方法提取的相位平均误差在2％以内.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张芳	天津工业大学电子与信息工程学院	66	342	10.0	16.0
2	王晋疆	天津大学光电信息技术教育部重点实验室	33	182	6.0	12.0
3	马潇	天津工业大学电子与信息工程学院	3	1	1.0	1.0
4	孙娇	天津工业大学电子与信息工程学院	1	1	1.0	1.0
5	檀玉飞	天津工业大学电子与信息工程学院	1	1	1.0	1.0