紫外检测电晕放电强度量化分级

• 作者: 单宇 周小波 朱润 马立新
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 电晕放电现象 紫外检测技术 投影寻踪理论 放电故障等级
• 年，卷（期）: 2016,（1）
• 所属期刊栏目: ?光电测量与检测?
• 页码范围: 1-5
• 页数: 5页
• 分类号: TP391
• 字数: 2748字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2016.01.001

摘要

高压设备运行过程中会发生电晕放电现象，其危害很大。本文利用紫外放电检测新技术，融合采集到电晕和可见光图像，准确对故障点进行定位。采用遗传算法的投影寻踪理论，利用Delphi软件对采集的紫外电晕图进行处理后作为分级数据，建立遗传投影寻踪等级模型，对电晕放电强度的量化分级研究。实验结果验证了该模型的合理性，测试结果也达到预期的结果，对放电故障检测有一定的实际应用意义。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马立新	上海理工大学光电信息与计算机工程学院	146	650	11.0	17.0
2	朱润	上海理工大学光电信息与计算机工程学院	4	16	3.0	4.0
3	周小波	上海理工大学光电信息与计算机工程学院	8	29	4.0	4.0
4	单宇	上海理工大学光电信息与计算机工程学院	3	9	2.0	3.0