4错线性复杂度的2n周期序列计数

• 作者: 戴小平 毕松松
• 来源期刊: 苏州科技学院学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 关键错误线性复杂度 k错线性复杂度 方体理论 筛选法
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 页码范围: 55-63
• 页数: 9页
• 分类号: TP918.1
• 字数: 10735字
• 语种: 中文

摘要

k错线性复杂度是衡量序列密码稳定性的重要指标之一。给出求满足4错线性复杂度的2n周期序列计数的过程。把4错线性复杂度的研究分解为对关键错误线性复杂度的研究，再用方体理论和筛选法讨论关键错误线性复杂度，得到相应关键错误点（下降点）4错线性复杂度的取值形式，及此时二元序列精确计数公式。最后，归纳出4错线性复杂度所有的取值形式和计算出满足4错线性复杂度的序列计数。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	戴小平	安徽工业大学计算机科学与技术学院	22	134	7.0	11.0
2	毕松松	安徽工业大学计算机科学与技术学院	4	1	1.0	1.0