采用表面电位衰减法测试星用典型绝缘介质电导率

• 作者: 刘业楠 唐小金 孙永卫 武占成 王松
• 来源期刊: 军械工程学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电导率测试 表面电位衰减法 电子辐照 静电放电 聚酰亚胺
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 装备电磁防护理论与技术
• 页码范围: 33-36
• 页数: 4页
• 分类号: O441|TN011
• 字数: 2647字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-2956.2016.02.008

摘要

卫星上某些绝缘介质受空间等离子体作用,容易发生充放电情况.该过程中,介质电导率是影响充放电特征的关键参数.采用表面电位衰减法,可以得到接近实际工况的介质本征电导率.因此,采用表面电位衰减法,首先分析表面电位衰减法对测试结果的影响因素,然后研究3 keV电子束辐照后不同厚度试样表面电位衰减过程,获得电路板材料(Fr-4)和聚酰亚胺(PI)的本征电导率为10-16 S/m量级,总结出试样厚度和电子能量对表面电位衰减测试电导率的作用规律.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	武占成	军械工程学院静电与电磁防护研究所	87	567	12.0	18.0
2	孙永卫	军械工程学院静电与电磁防护研究所	64	408	12.0	16.0
3	刘业楠		25	92	5.0	8.0
4	王松	军械工程学院静电与电磁防护研究所	19	74	6.0	7.0
5	唐小金		13	66	5.0	7.0