均匀平面阵下的二维DOA估计与互耦自校正

• 作者: 刘江 张辰
• 来源期刊: 电讯技术
• 学科: 工学
• 关键词: 均匀平面阵 到达角估计 互耦效应 自校正 秩损准则
• 年，卷（期）: 2016,（4）
• 所属期刊栏目: 电子与信息工程
• 页码范围: 377-382
• 页数: 6页
• 分类号: TN971
• 字数: 5980字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-893x.2016.04.005

摘要

针对存在互耦效应时均匀平面阵的测向鲁棒性问题，提出了一种基于秩损准则的互耦自校正算法。根据对互耦效应的先验知识，提出的算法只需将受互耦扰动的阵列响应在变换域中重新排列，便可在后续处理中屏蔽掉互耦效应的不利影响，同时也避免了现有工作中存在的阵列孔径损失问题。借助秩损估计原理，在变换域中设计了一种巧妙的计算步骤，使得方位估计的降维操作得以实现；并且，后续还可通过特征分解法得到更精确的互耦系数估计，以进行阵列误差自校正。与现有的研究工作相比，所提算法无论是在估计精度，还是在计算效率上均有着显著的性能优势。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张辰	浙江大学信息与电子工程学院	10	18	3.0	3.0
2	刘江		3	9	2.0	3.0