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基于FPGA和Nios系统设计的智能电子测试仪器
基于FPGA和Nios系统设计的智能电子测试仪器
作者:
张志钊
张良
葛荣骏
马义德
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
FPGA
NiosⅡ
智能仪器
波形发生器
摘要:
介绍了一款以FPGA和NIOS系统为核心设计的智能电子测试仪器.该仪器主要围绕友晶公司的Ahera DE2-70开发板进行开发,借助直接数字频率合成(DDS)技术与FPGA芯片的可编程、易修改的特性,实现了正弦波、余弦波、三角波、方波、锯齿波5种基础波形与AM、FM、2ASK、2PSK 4种调制信号的输出,并且在LCD液晶屏上实时显示输出波形.此外,对于外部反馈信号,系统利用NiosⅡ嵌入式微处理器对信号做进一步的处理,例如波形的幅度变换、频率测量、电压测量和幅频特性分析等.该智能电子测试仪器实现了波形发生器、数字示波器、扫频仪、频率计、电压表等多种仪器在功能上的综合,是智能仪器仪表设计的一次全新的尝试.
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文献信息
篇名
基于FPGA和Nios系统设计的智能电子测试仪器
来源期刊
微型机与应用
学科
工学
关键词
FPGA
NiosⅡ
智能仪器
波形发生器
年,卷(期)
2016,(4)
所属期刊栏目
人工智能
研究方向
页码范围
50-53,56
页数
5页
分类号
TP216
字数
2214字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
马义德
兰州大学电路与系统研究所
149
2170
21.0
42.0
2
张良
兰州大学电路与系统研究所
3
77
3.0
3.0
3
葛荣骏
兰州大学电路与系统研究所
1
3
1.0
1.0
4
张志钊
兰州大学电路与系统研究所
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研究主题发展历程
节点文献
FPGA
NiosⅡ
智能仪器
波形发生器
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
信息技术与网络安全
主办单位:
华北计算机系统工程研究所(中国电子信息产业集团有限公司第六研究所)
出版周期:
月刊
ISSN:
2096-5133
CN:
10-1543/TP
开本:
大16开
出版地:
北京市海淀区清华东路25号(北京927信箱)
邮发代号:
82-417
创刊时间:
1982
语种:
chi
出版文献量(篇)
10909
总下载数(次)
33
总被引数(次)
35987
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