X射线半值层测量方法研究

• 作者: 刘莹 吴金杰 康佳佳 廖振宇 杜海燕 赖万昌
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 半值层 窄束 宽束 探测距离
• 年，卷（期）: 2016,（z1）
• 所属期刊栏目: 电离辐射计量
• 页码范围: 29-33
• 页数: 5页
• 分类号: TB98
• 字数: 4116字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2016.z1.07

摘要

根据ISO 4037建立了窄谱系列规范辐射质,研究了射束宽窄与探测距离对X射线半值层测量的影响.结果显示:当X射线能量较高时,在半值层的测量中,不可忽略散射的影响,需要在窄束下测量;在依据ISO 4037建立的窄谱X射线半值层的测量中,当管电压高于60 kV,对应的射束的能量高于45.8 keV时,需要在窄柬测量;适当的增加探测距离也可减少散射对半值层测量的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴金杰		68	186	7.0	9.0
2	赖万昌		150	873	15.0	20.0
3	杜海燕		9	11	2.0	2.0
7	廖振宇		8	19	3.0	3.0
11	刘莹		5	5	2.0	2.0
15	康佳佳		6	7	2.0	2.0