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摘要:
随着薄膜制备技术的发展和理想氧化物界面的实现,氧化物界面表现出如超导性等诸多优异特性,成为新一代电子器件的有力候选材料。相较金属和半导体界面而言,氧化物界面的特性更具有局域性,故阐明其界面处的原子/电子结构显得更为重要。界面并不能独立于体相而单独存在,因此研究界面问题的关键是如何提取掩埋在体相中的微弱界面信息。透射电子显微镜作为一种表征局域结构的手段,同时又具备多种技术可实现成像、衍射以及能谱分析,故成为表征氧化物界面的有力工具。通过制备截面样品,可得到氧化物界面在不同投影面的二维结构,进而重构界面的三维原子结构。此外,通过采集包含不同比重界面信号的一组实验数据,可通过数学分析方法分离出界面信号。这种方法在研究界面和界面的电子结构等问题上具有一定优势。
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文献信息
篇名 氧化物界面的原子/电子结构
来源期刊 中国材料进展 学科 物理学
关键词 氧化物 界面 透射电子显微术 原子结构 电子结构
年,卷(期) 2016,(5) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 356-360
页数 5页 分类号 O562
字数 3041字 语种 中文
DOI 10.7502/j.issn.1674-3962.2016.05.04
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 祝国珍 上海交通大学材料科学与工程学院 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
氧化物
界面
透射电子显微术
原子结构
电子结构
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
中国材料进展
月刊
1674-3962
61-1473/TG
大16开
西安市未央路96号
52-281
1982
chi
出版文献量(篇)
4198
总下载数(次)
10
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