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基于单片机的数显电容测试仪的设计
基于单片机的数显电容测试仪的设计
作者:
赵巧妮
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
AT89S51
电容测量仪
555
简单
摘要:
基于AT89S51单片机和555定时器芯片设计的数显式电容测量仪,由555芯片和电容电阻组成振荡电路来输出矩形波,通过单片机定时器T0测量其脉冲宽度,从而达到测量其周期的目的,再通过单片机软件编程,对数据进行进一步的计算从而得出被测电容的值,并通过液晶LCD1602显示出其测量的电容值.经过试验验证,该设计的硬件设计和软件设计都相对简单,成本较低.
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文献信息
篇名
基于单片机的数显电容测试仪的设计
来源期刊
电子质量
学科
工学
关键词
AT89S51
电容测量仪
555
简单
年,卷(期)
2016,(5)
所属期刊栏目
电磁兼容
研究方向
页码范围
71-74
页数
4页
分类号
TP319
字数
1176字
语种
中文
DOI
五维指标
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姓名
单位
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赵巧妮
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AT89S51
电容测量仪
555
简单
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
主办单位:
中国电子质量管理协会
工业和信息化部电子第五研究所(中国赛宝实验室)
出版周期:
月刊
ISSN:
1003-0107
CN:
44-1038/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市五羊新城广兴花园32号一层
邮发代号:
46-39
创刊时间:
1980
语种:
chi
出版文献量(篇)
7058
总下载数(次)
32
总被引数(次)
15176
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