光交换芯片的串扰分析与DQPSK信号传输实验

• 作者: 廖明乐 武保剑 耿勇 赵元力 邱昆
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 光通信 光子集成芯片 光开关阵列 串扰 插入损耗
• 年，卷（期）: 2016,（1）
• 所属期刊栏目: 集成光学
• 页码范围: 157-163
• 页数: 7页
• 分类号: O439
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/AOS201636.0113001

摘要

串扰和插入损耗是表征光交换芯片传输性能的重要参数.将串扰与插入损耗特性结合起来,提出一种分析光交换集成芯片串扰的理论模型,考虑了串扰对开关路由的依赖性.实验测量了基于马赫-曾德尔干涉仪(MZI)的4×4拜尼兹结构的光交换集成芯片的串扰和插入损耗系数,以及不同开关路由状态下40 Gb/s差分四相相移键控(DQPSK)信号的传输性能,实验结果与理论分析基本一致.根据测得的串扰和插入损耗系数,计算了16×16光交换芯片串扰范围.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邱昆		128	605	12.0	17.0
2	武保剑		72	198	7.0	11.0
3	廖明乐		3	6	1.0	2.0
4	耿勇		4	0	0.0	0.0
5	赵元力		1	0	0.0	0.0