载波泄漏与I/Q失配矫正技术

• 作者: 雷倩倩
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 直接变频结构 载波泄漏 I/Q失配 直流失调
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 页码范围: 149-154
• 页数: 6页
• 分类号: TN47
• 字数: 2952字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2016.03.026

摘要

提出了一种基于数字基带的载波泄漏与I/Q失配矫正方案.该方案只需在射频芯片上引入一条矫正通路,将载波泄漏与I/Q失配量检测出来发送给数字基带,数字基带完成矫正工作,减小了芯片面积和功耗,降低了设计难度.在TSMC 0.13μm CMOS工艺下,系统仿真结果表明,该矫正方案的载波泄漏误差小于1.5％,I/Q失配的相位与幅度矫正误差均小于6.5％.矫正链路的测试结果表明,I/Q幅度的不匹配体现在输入信号两倍的频率上,矫正链路的带宽为20 MHz,链路增益变化范围为15 dB,步长为5dB.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	雷倩倩	西安工程大学理学院	6	20	2.0	4.0