PHY-CRAM物理层激励响应认证机制的性能分析

• 作者: 吴晓富 张丹 朱卫平 颜俊
• 来源期刊: 计算机科学
• 学科: 工学
• 关键词: 激励响应认证 OFDM技术 接收操作特性曲线 理论分析
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 信息安全
• 页码范围: 188-191,223
• 页数: 5页
• 分类号: TN918
• 字数: 4273字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11896/j.issn.1002-137X.2016.2.041

摘要

物理层认证是利用物理层资源的特性识别通信用户身份,可以有效地阻止非法用户的接入与访问,加强无线网络的信息安全性.PHY-CRAM是最近提出的一种典型的物理层激励响应认证机制,目前其性能主要依赖于仿真.尝试对其认证性能进行理论分析,推导了成功认证概率和错误接收概率的解析表达式.推导结果表明:PHY-CRAM认证准则中的相关系数服从莱斯分布,成功认证概率和错误接收概率均可用MarcumQ函数来计算.进一步的计算机仿真结果显示:相关系数的概率密度曲线与莱斯分布的概率密度曲线相吻合,且认证使用的密钥越长,吻合性越好;接收操作特性(ROC)曲线的理论值和统计值是一致的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱卫平	南京邮电大学通信与信息工程学院	23	132	6.0	10.0
2	颜俊	南京邮电大学通信与信息工程学院	9	52	3.0	7.0
3	吴晓富	南京邮电大学通信与信息工程学院	25	57	5.0	6.0
4	张丹	南京邮电大学通信与信息工程学院	2	5	2.0	2.0