发射光谱法分析化探样品中的银锡元素

• 作者: 徐春秀
• 来源期刊: 化工设计通讯
• 学科: 地球科学
• 关键词: 发射光谱法 化探样品 银锡元素
• 年，卷（期）: 2016,（4）
• 所属期刊栏目: Research and Development 研究与开发
• 页码范围: 157-158
• 页数: 2页
• 分类号: P575.4
• 字数: 1369字
• 语种: 中文

摘要

选取一米平面光栅摄谱仪器可进行两次重叠摄谱测定，选取氧化锗0.007g，焦硫酸钾23g，分析纯氟化钠20g，分析纯氧化铝45g，石墨粉15.6g作为缓冲剂，最终依据国家标准GBW07301经过15次测定，选取多个样本，多角度，多方位进行测量，银锡元素检出限分别为Ag：0.02μg/g，Sn：0.23μg/g，精密度为Ag：5.7%，Sn：6.7%。