一种简易的智能数字芯片检测装置

• 作者: 秦玉伟
• 来源期刊: 计量技术
• 关键词: 数字芯片 单片机 检测 逻辑功能
• 年，卷（期）: 2016,（11）
• 所属期刊栏目: 测量与设备
• 页码范围: 14-17
• 页数: 4页
• 字数: 2445字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0771.2016.11.04

摘要

针对实验教学过程中数字芯片型号识别和内部故障等问题,设计了一种基于MSP430系列单片机的低功耗智能数字芯片检测装置.利用布尔函数关系式建立了故障集,并对测试芯片生成测试向量,通过单片机编写待测芯片逻辑功能的测试程序,用单片机I/O对待测芯片的逻辑功能进行检测,并将检测结果与存储的芯片逻辑功能进行对比,判断待测芯片是否存在故障.实验结果表明,该装置能够实现对双列直插式数字芯片的快速检测,并显示数字芯片型号或故障,具有体积小、检测速度快,使用方便等优点.